新的  X  射線熒光  (XRF)  分析儀  X-MET5100  將手持式儀器的分析性能提高到全新水平。 
 
  　　X-MET5100  將牛津儀器的硅漂移探測器  (SDD)  和強大的  45  千伏  X  射線管結合起來，顯示了儀器設計上的革命性突破。這種技術提供了快速、高精度的測量，并且無需借助復雜的真空泵或氦氣罐等附屬設備就可以對鎂、鋁、硅等輕元素進行測量，這實在是手持式  X  射線熒光  (XRF)  分析的一大飛躍。 
 
  　　PMI  檢測行業、廢舊金屬回收行業、特別是航空工業終于擁有了他們一直期待的堅固的便攜式  XRF  輕元素測試工具。X-MET5100  保證了鋁及鈦合金的實驗室質量分析的性，它對檢測銅、鎳和鋼等金屬材料中含有的輕金屬元素時的敏感性也是的。 
 
  　　硅漂移探測器  (SDD)、45  千伏  X  射線管和經驗系數分析方法的強大結合，意味著  X-MET5100  可以在短短  1  秒鐘內，準確地分析和確定金屬合金成分。受限物質（重金屬元素）、玩具中的鉛、土壤中的污染物和礦石中的微量物質可以得到準確測量，其速度之快，在從前是*可能的。在幾秒鐘之內，就可以得到  ppm  級的痕量元素檢測結果。X-MET5100  的速度和準確性確保了可靠的實時檢測結果。 
 
  　　X-MET5100  是牛津儀器用于日常多元素分析的  X-MET5000  的升級產品，后者于今年早些時候成功推出。這兩款儀器都符合  IP54  (NEMA  3)  防塵防水認證要求，能夠承受zui苛刻的工作條件。 
 
  　　X-MET5100  已于  9  月在拉斯維加斯鈦展覽會和埃森世界鋁貿易博覽會上成功展出。預計將于2008  年11  月11  日至13  日在北京會議中心舉行的2008（第五屆）  礦業博覽會上在展出。 
 
 

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